目前，主流的產品logo都是噴印在產品上的，但由于工藝的原因，印制的logo通常都存在一定的印刷不良，如印刷錯位、漏印、錯印等，這嚴重影響了產品的外觀及品牌的整體形象, 針對此類問題，很多企業采用人工檢測的方式來檢測印制品的質量，但是由于人檢測過程中不可避免的失誤，會導致大量漏檢、錯檢和人工損傷，愈來愈高的人力成本也成為生產廠家規模擴張的一大制約因素。
在工業中使用高光面材質加工一些平整度較高，且表面要求較高的工件，如手機logo，軍用設備中的導光板等產品, 如蘋果LOGO瑕疵檢測。
此類型的工樣品本身是屬于鏡面反光，工件本身平整度高，且易粘黏油污、手印等。

難點，問題點：
反光問題：由于材質表面光潔度很高，已經形成一個高光鏡面，光源即使在很弱的狀態下，表面的反光也會有非常強的對比度，這種對比度會把表面本身的雜質、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋，使得視覺拍照無法檢測出零件表面缺陷。
倒影問題：由于材質表面已經形成一個鏡面，一般的光學鏡頭和視覺光源的燈珠等都會在材質表面形成倒影，這個倒影會成像在最后的檢測畫面上,會嚴重影響材質表面的成像效果，造成檢測無法進行。
朗銳智科根據多年機器視覺檢測項目經驗，總結出的成熟系統解決方案，主要用來解決電子產品表面Logo缺陷檢測，目前主要應用在國內產品Logo和手機外殼Logo表面缺陷檢測。

碰傷、擊傷、缺口瑕疵檢測
刮傷瑕疵檢測
壓傷、凹痕瑕疵檢測
針孔瑕疵檢測
腐蝕點、白點、麻點瑕疵檢測
臟污瑕疵檢測
研磨痕瑕疵檢測
料線、料紋瑕疵檢測
凸包瑕疵檢測等
可應用在電子行業內的缺陷檢測，例如可穿戴產品表面缺陷檢測、平板電腦Logo缺陷檢測等，同時也可應用在醫療器械等高亮度、鏡面缺陷檢測。